Safety ManualOPTISWITCH série 3000- Transistor (NPN/PNP)
Durée d'un test de diagnostic < 100 sek.Architecture monocanale (1oo1D)SIL SIL2HFT 0Type d'appareil type BProtection antidébor-dement (fo
Architecture à plusieurs canauxSi le système de mesure est utilisé dans une architecture àplusieurs canaux, il faudra à l'aide des taux de défail
Sous réserve de modifications pour raisons techniques32744-FR-080414
Sommaire1 Sécurité fonctionnelle1.1 Généralité . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .31.2 Conception . . . . . . . . . . . . . . . .
1 Sécurité fonctionnelle1.1 GénéralitéCe manuel de sécurité est valable pour les systèmes demesure comprenant le détecteur vibrant OPTISWITCH de lasér
DCDDiagnostic Coverage of dangerous failures; DCD= λdd/(λdd+λdu)FIT Failure In Time (1 FIT = 1 failure/109h)MTBF Mean Time Between FailureMTTF Mean Ti
On différenciera entre les deux états "immergé" et "émergé".L'état de sécurité dépend du mode de fonctionnement :Protection an
Le paramètre associé est la valeur PFDavg(average Pro-bability of dangerous Failure on Demand). La valeur dépendde l'intervalle de vérification TP
Il faudra veiller à une utilisation du système de mesureconforme à l'application en tenant compte de la pression, de latempérature, de la densité
Les signalisations de défaut se manifestant durant lefonctionnement sont décrites dans la notice technique de miseen service de l'appareil.En pré
Les méthodes et procédés utilisés au cours des tests doiventêtre spécifiés tout comme leur degré d'aptitude. Les contrôlessont à documenter.Si le
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